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麥奇克激光粒度儀 NANOTRAC WAVE II納米粒度及zeta電位儀
NANOTRAC WAVE II納米粒度及zeta電位儀
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麥奇克MICROTRAC MRB激光粒度儀NANOTRAC WAVE II納米粒度及zeta電位儀

 

NANOTRAC WAVE II采用先進的“Y”型光纖探針光路設(shè)計,配置膜電極產(chǎn)生微電場,操作簡單,測量迅速,無需定位由于電泳和電滲等效應(yīng)導(dǎo)致的靜止層,無需外加大功率電場,無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池,完全消除由于空間位阻(不同光學(xué)元器件間的傳輸損失,比色皿器壁的折射和污染,比色皿位置的差異,分散介質(zhì)的影響,顆粒間多重散射等)帶來的光學(xué)信號的損失,結(jié)果準(zhǔn)確可靠,重現(xiàn)性好。

極速截圖202203041831.png

產(chǎn)品詳情

納米粒度測量——先進的動態(tài)光背散射技術(shù)

Zeta電位測量:Microtrac MRB以其在激光衍射/散射技術(shù)和顆粒表征方面的獨到見解,經(jīng)過多年的市場調(diào)研和潛心研究,開發(fā)出新一代NANOTRAC WAVE II微電場分析技術(shù),融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測量于一體,無需傳統(tǒng)的比色皿,一次進樣即可得到準(zhǔn)確的粒度分布和Zeta電位分析數(shù)據(jù)。與傳統(tǒng)的Zeta電位分析技術(shù)相比,NANOTRAC WAVE II采用先進的“Y”型光纖探針光路設(shè)計,配置膜電極產(chǎn)生微電場,操作簡單,測量迅速,無需定位由于電泳和電滲等效應(yīng)導(dǎo)致的靜止層,無需外加大功率電場,無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池,完全消除由于空間位阻(不同光學(xué)元器件間的傳輸損失,比色皿器壁的折射和污染,比色皿位置的差異,分散介質(zhì)的影響,顆粒間多重散射等)帶來的光學(xué)信號的損失,結(jié)果準(zhǔn)確可靠,重現(xiàn)性好。

 

測量原理:

粒度測量:動態(tài)光背散射技術(shù)和全量程米氏理論處理

Zeta電位測量:膜電極設(shè)計與“Y”型探頭形成微電場測量電泳遷移率

分子量測量:水力直徑或德拜曲線

 

光學(xué)系統(tǒng):

3mW780nm半導(dǎo)體固定位置激光器,通過梯度步進光纖直接照射樣品,在固定位置用硅光二極管接受背散射光信號,無需校正光路

 

軟件系統(tǒng):

先進的FLEX軟件提供強大的數(shù)據(jù)處理能力,包括圖形,數(shù)據(jù)輸出/輸入,個性化輸出報告,及各種文字處理功能,如PDF格式輸出, Internet共享數(shù)據(jù),Microsoft Access格式(OLE)等。體積,數(shù)量,面積及光強分布,包括積分/微分百分比和其他分析統(tǒng)計數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)的完整性符合21 CFR PART 11安全要求,包括口令保護,電子簽名和授權(quán)等。

 

外部環(huán)境:

電源要求:90-240VAC,5A50/60Hz

環(huán)境要求:溫度,10-35°C

:符合ISO13321,ISO13099-2:2012 ISO22412:2008

 

主要特點:

? 采用先進的動態(tài)光散射技術(shù),引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關(guān)光譜法

? Y”型光纖光路系統(tǒng),通過藍寶石測量窗口,直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布,在加載電流的情況下,與膜電極對應(yīng)產(chǎn)生微電場,測量同一體系的Zeta電位, 避免樣品交叉污染與濃度變化。

? 異相多譜勒頻移技術(shù),較之傳統(tǒng)的方法,獲得光信號強度高出幾個數(shù)量級,提高分析結(jié)果的可靠性。

? 可控參比方法(CRM),能精細分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜,確保分析的靈敏度。

? 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計,減少了多重散射現(xiàn)象的干擾,保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準(zhǔn)確性。

? 快速傅利葉變換算法(FFT,Fast FourierTransform Algorithm Method,迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜,縮短分析時間。

? 膜電極設(shè)計,避免產(chǎn)生熱效應(yīng),能準(zhǔn)確測量顆粒電泳速度。

? 無需比色皿,毛細管電泳池或外加電極池,僅需點擊Zeta電位操作鍵,一分鐘內(nèi)即可得到分析結(jié)果

? 消除多種空間位阻對散射光信號的干擾,諸如光路中不同光學(xué)元器件間傳輸?shù)膿p失,樣品池位置不同帶來的誤差,比色皿器壁的折射與污染,分散介質(zhì)的影響,多重散射的衰減等,提高靈敏度。

產(chǎn)品參數(shù)

粒度分析范圍

0.3nm-10μm

重現(xiàn)性

誤差≤1%

濃度范圍

100ppb-40%w/v

檢測角度

180°

分析時間

30-120

準(zhǔn)確性

全量程米氏理論及非球形顆粒校正因子

測量精度

無需預(yù)選,依據(jù)實際測量結(jié)果,自動生成單峰/多峰分布結(jié)果

理論設(shè)計溫度

0-90℃,可以進行程序升溫或降溫

兼容性

水相和有機相

 
















解決方案

 

麥奇克納米粒度儀Nanotrac +Wave在脂質(zhì)體乳液測量中的應(yīng)用

本論文著重描寫脂肪蛋白質(zhì)和膠束在稀釋或是濃縮液體環(huán)境中的脂質(zhì)體粒子的測量. 由于需要控制, 修改及穩(wěn)定脂質(zhì)體, 尺寸大小的測量就是一個關(guān)鍵的參數(shù). 因而對多層薄層結(jié)構(gòu)的生長, 脂質(zhì)體的團聚, 膜的瓦解, 和微生物的污染都是很重要的而且可以通過(PCS)光子相關(guān)光譜法測量粒子尺寸得到研究. 采用(PCS)光子相關(guān)光譜法原理設(shè)計的美國Microtrac Nanotrac Wave儀器可以被用來縮短測量時間(5-30)而且可測量精細粒子(3-6000納米)的脂質(zhì)體。

 

麥奇克納米粒度儀在印刷油墨粒徑測量的應(yīng)用

麥奇克在測量打印機的顏料懸浮液微粒粒徑方面已經(jīng)建立了一套成熟的標(biāo)準(zhǔn)方法。在高濃度進行測量以免稀釋對分散產(chǎn)生影響。

 


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